金線檢測(cè)系統(tǒng)
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201920986520.2 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN210006759U | 公開(公告)日 | 2020-01-31 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN210006759U | 申請(qǐng)公布日 | 2020-01-31 |
分類號(hào) | H01L33/48(2010.01); H01L33/62(2010.01); G01R31/44(2006.01) | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 潘柳靜; 潘東平; 程繼華; 柏海坡; 潘新昌; 龍江嫻 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 深圳市匯大光電科技股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 廣州嘉權(quán)專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 | 代理人 | 深圳市匯大光電科技股份有限公司 |
地址 | 518000 廣東省深圳市龍崗區(qū)寶龍工業(yè)城翠寶路28號(hào)賽格導(dǎo)航工業(yè)園 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 一種金線檢測(cè)系統(tǒng),涉及燈具領(lǐng)域,包括:識(shí)別組件、分析組件和破壞組件。本實(shí)用新型的金線檢測(cè)系統(tǒng)中,識(shí)別組件能夠獲取金線的產(chǎn)品信息,并將其傳遞至分析組件、與分析組件中存儲(chǔ)的樣本信息進(jìn)行對(duì)比;破壞組件能夠在分析組件的控制下對(duì)殘次品質(zhì)的金線進(jìn)行斷裂破壞,如此,可以保證含有殘次品質(zhì)金線的引腳燈能夠被準(zhǔn)確識(shí)別,對(duì)其不予出廠,保證了出廠產(chǎn)品的金線均為未受損金線,產(chǎn)品質(zhì)量高。 |
