基于負(fù)溫度系數(shù)NTC電阻設(shè)計(jì)的射頻補(bǔ)償方法和裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910431224.0 申請日 -
公開(公告)號 CN111987999A 公開(公告)日 2020-11-24
申請公布號 CN111987999A 申請公布日 2020-11-24
分類號 H03F1/30(2006.01)I 分類 基本電子電路;
發(fā)明人 符青清 申請(專利權(quán))人 北京九天微星科技發(fā)展有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 100097北京市海淀區(qū)昆明湖南路51號中關(guān)村軍民融合產(chǎn)業(yè)園C座307
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明實(shí)施例提出一種基于負(fù)溫度系數(shù)NTC電阻設(shè)計(jì)的射頻補(bǔ)償方法,包括如下步驟:獲取射頻鏈路全溫范圍內(nèi)的射頻功率變化與溫度的關(guān)系;根據(jù)所述射頻功率變化與溫度的關(guān)系設(shè)計(jì)衰減電路的衰減量與溫度的關(guān)系;根據(jù)所述衰減量與溫度的關(guān)系反推衰減電路中NTC電阻溫度特性,根據(jù)所述NTC電阻溫度特性進(jìn)行器件選型。本申請實(shí)施例可以實(shí)現(xiàn)射頻功率自動補(bǔ)償,全程無需人為參與或程序控制,方案新穎且成本低、可靠性高。??