用陰離子修飾納米粒子增強拉曼光譜的方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201310651346.3 申請日 -
公開（公告）號 CN103604798B 公開（公告）日 2017-01-18
申請公布號 CN103604798B 申請公布日 2017-01-18
分類號 G01N21/65(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 任斌;許麗佳;宗鋮;鄭曉姍;胡佩 申請（專利權）人 廈門大學資產經營有限公司
代理機構 廈門市首創(chuàng)君合專利事務所有限公司 代理人 廈門大學;廈門大學資產經營有限公司;廈門市普識納米科技有限公司
地址 361000 福建省廈門市思明南路４２２號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了用陰離子修飾納米粒子增強拉曼光譜的方法，涉及激光拉曼光譜的檢測。方法為制備金屬納米粒子為內核，滿單層強吸附的陰離子為修飾層的表面改性的納米粒子；將納米粒子溶膠與待測生物分子均勻混合；直接進行表面增強拉曼光譜檢測。本發(fā)明用陰離子修飾納米粒子增強拉曼光譜的方法操作簡單、快速、成本低、靈敏度高、重現(xiàn)性好、有效維持生物分子的天然構象、結果準確可靠、適于研究生物分子。