一種并聯(lián)機(jī)器人快速分揀瑕疵工件的方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110382250.6 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113102297B | 公開(公告)日 | 2022-03-08 |
申請公布號 | CN113102297B | 申請公布日 | 2022-03-08 |
分類號 | B07C5/36(2006.01)I;G06T7/00(2017.01)I | 分類 | 將固體從固體中分離;分選; |
發(fā)明人 | 溫宇翔;宋偉銘;周中亞;劉敏;高曉陽 | 申請(專利權(quán))人 | 中國大恒(集團(tuán))有限公司北京圖像視覺技術(shù)分公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京律譜知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 黃云鐸 |
地址 | 100084北京市海淀區(qū)蘇州街3號大恒科技大廈北座12層1201室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請公開了一種并聯(lián)機(jī)器人快速分揀瑕疵工件的方法,包括:根據(jù)待檢測圖像生成圖像金字塔,并確定最高層金字塔圖像的參考點;依據(jù)最高層金字塔圖像的參考點,確定下一層圖像的預(yù)計參考點,以該點為中心確定第一區(qū)域,并計算第一區(qū)域各像素點的匹配得分,將其最大值對應(yīng)的像素點記作中間參考點;當(dāng)中間參考點位于第一區(qū)域的邊緣時,以該點為中心確定第二區(qū)域,并計算第二區(qū)域各像素點的匹配得分,將其最大值對應(yīng)的像素點記作本層圖像的參考點,重新執(zhí)行步驟2;基于最底層金字塔圖像的參考點,計算待檢工件為瑕疵件的可信度,以判斷是否抓取待檢工件。通過本申請中的技術(shù)方案,解決了當(dāng)前工業(yè)機(jī)器人分揀系統(tǒng)存在缺陷檢測速度慢、錯誤率高的問題。 |
