設(shè)備性能的預(yù)測方法及裝置、存儲介質(zhì)、終端
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201911122080.7 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN112819190A | 公開(公告)日 | 2021-05-18 |
申請公布號 | CN112819190A | 申請公布日 | 2021-05-18 |
分類號 | G06Q10/04;G06Q10/06 | 分類 | 計算;推算;計數(shù); |
發(fā)明人 | 高磊 | 申請(專利權(quán))人 | 上海杰之能軟件科技有限公司 |
代理機構(gòu) | 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 杜金玲;張振軍 |
地址 | 200072 上海市靜安區(qū)江場路1377弄17號舜杰大廈12樓 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 一種設(shè)備性能的預(yù)測方法及裝置、存儲介質(zhì)、終端,所述方法包括:確定用于評價設(shè)備性能的性能指標;從歷史數(shù)據(jù)中獲取多個歷史性能指標序列,并計算歷史p值,以得到歷史p值集合,并根據(jù)歷史p值集合確定預(yù)警p值;從待檢測數(shù)據(jù)中獲取待檢測性能指標序列,計算待檢測p值;比較所述待檢測p值與所述預(yù)警p值,根據(jù)比較結(jié)果預(yù)測設(shè)備性能;待檢測p值及歷史p值按照如下步驟計算:截取預(yù)設(shè)長度的性能指標序列,并劃分為第一子序列和第二子序列;構(gòu)造能夠表示第一子序列和第二子序列之間的均值水平差異的統(tǒng)計量,統(tǒng)計量服從t分布;確定統(tǒng)計量實測值,并計算能夠反應(yīng)設(shè)備故障概率的p值。本發(fā)明提供的方案可以預(yù)測設(shè)備性能,以提高預(yù)警準確率。 |
