芯片及其使用方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110368348.6 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113190386A | 公開(公告)日 | 2021-07-30 |
申請公布號 | CN113190386A | 申請公布日 | 2021-07-30 |
分類號 | G06F11/22(2006.01)I | 分類 | 計(jì)算;推算;計(jì)數(shù); |
發(fā)明人 | 蔣義冠;許明亮 | 申請(專利權(quán))人 | 深圳市紫光同創(chuàng)電子有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 深圳市智圈知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 周獻(xiàn) |
地址 | 518000廣東省深圳市南山區(qū)粵海街道高新區(qū)社區(qū)高新南一道015號國微研發(fā)大樓401 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請實(shí)施例公開了一種芯片及其使用方法,涉及電子技術(shù)領(lǐng)域。其中,該芯片包括:存儲單元、數(shù)據(jù)處理單元、測試控制單元以及檢測設(shè)備,其中,所述數(shù)據(jù)處理單元與所述存儲單元連接,用于從上位機(jī)中獲取配置信息并將所述配置信息存儲到所述存儲單元;所述測試控制單元與所述數(shù)據(jù)處理單元連接,用于通過所述數(shù)據(jù)處理單元從所述存儲單元獲取所述配置信息,并基于所述配置信息配置待測試芯片;所述檢測設(shè)備分別與所述測試控制單元和所述待測試芯片連接,用于對被配置后的待測試芯片進(jìn)行檢測,以得到測試數(shù)據(jù)。本申請能夠有效提升了測試效率、降低了測試成本。 |
