用于衍射時(shí)差法超聲檢測(cè)確定掃查面盲區(qū)的對(duì)比試塊

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202010892178.7 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN114113341A 公開（公告）日 2022-03-01
申請(qǐng)公布號(hào) CN114113341A 申請(qǐng)公布日 2022-03-01
分類號(hào) G01N29/30（2006.01）I;G01N29/07（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 裴延?xùn)|;楊興斌;馬昌全;陳霄;陳濤;朱丁丁;黎長(zhǎng)春;張佳臣 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 華電鄭州機(jī)械設(shè)計(jì)研究院有限公司
代理機(jī)構(gòu) 鄭州中原專利事務(wù)所有限公司 代理人 霍彥偉
地址 450046河南省鄭州市鄭東新區(qū)龍子湖街道湖心環(huán)路與湖心一路交叉口向西50米路北
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 用于衍射時(shí)差法超聲檢測(cè)確定掃查面盲區(qū)的對(duì)比試塊，包括矩形的對(duì)比試塊，所述對(duì)比試塊內(nèi)部通過(guò)電火花數(shù)控線切割機(jī)床加工有與掃查方向一致的人工缺陷，所述人工缺陷與對(duì)比試塊上表面具有夾角。本發(fā)明的對(duì)比試塊在采用衍射時(shí)差法超聲檢測(cè)技術(shù)進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，可以用所述對(duì)比試塊驗(yàn)證當(dāng)前檢測(cè)參數(shù)下的掃查面盲區(qū)，根據(jù)掃查面盲區(qū)值大小確定補(bǔ)充檢查方式，做到被檢工件100%檢測(cè)。