校準磁傳感器的方法和裝置
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN201310172424.1 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN104142485B | 公開（公告）日 | 2017-09-15 |
| 申請公布號 | CN104142485B | 申請公布日 | 2017-09-15 |
| 分類號 | G01V3/40 | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 涂仲軒;方舒 | 申請（專利權(quán)）人 | 意法半導(dǎo)體（中國）投資有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 北京市金杜律師事務(wù)所 | 代理人 | 鄭立柱 |
| 地址 | 200241 上海市東川路555號丁樓4層 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申請公開了一種用于校準磁傳感器的方法和裝置。所述方法包括獲取多個磁場測量值；將所述多個磁場測量值中的至少一部分代入橢球體模型，以獲得所述橢球體模型的中心坐標；根據(jù)所述橢球體模型的中心坐標，確定用于校準的偏移量；以及利用所述用于校準的偏移量，對所述磁傳感器進行校準。用于執(zhí)行所述方法的磁傳感器，包括獲取模塊，用于獲取多個磁場測量值；控制模塊，用于將所述多個磁場測量值的至少一部分代入橢球體模型，從而獲得所述橢球體模型的中心坐標，以及根據(jù)所述橢球體模型的中心坐標，確定用于校準的偏移量；以及校準模塊，用于基于所述用于校準的偏移量來對所述磁傳感器進行校準。 |
