紅外光學(xué)材料均勻性測試的溫度影響評(píng)估和控制方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201811219048.6 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN109406108B 公開（公告）日 2020-03-10
申請(qǐng)公布號(hào) CN109406108B 申請(qǐng)公布日 2020-03-10
分類號(hào) G01M11/02 分類 測量；測試;
發(fā)明人 麥綠波 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 中國兵器工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
代理機(jī)構(gòu) 中國兵器工業(yè)集團(tuán)公司專利中心 代理人 王雪芬
地址 100089 北京市海淀區(qū)車道溝10號(hào)院
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及紅外光學(xué)材料均勻性測試的溫度影響評(píng)估和控制方法，涉及紅外光學(xué)材料均勻性測試技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明基于對(duì)紅外光學(xué)材料折射率均勻性測試期間試樣局部小的溫度變化對(duì)測試結(jié)果精度影響的發(fā)現(xiàn)，建立了紅外光學(xué)材料折射率測試精度要求和不同紅外光學(xué)材料溫度變化對(duì)折射率影響對(duì)應(yīng)的測試室環(huán)境溫度控制的二維數(shù)值表格關(guān)系，并建立了相關(guān)計(jì)算公式進(jìn)行數(shù)值計(jì)算和填表，提供了紅外光學(xué)材料均勻性測試的溫度影響評(píng)估和控制方法，建立了紅外光學(xué)材料均勻性測試的溫度影響評(píng)估和控制方法的技術(shù)解決方案，能夠?yàn)榧t外光學(xué)材料均勻性測試精度的保證提供溫度控制的準(zhǔn)確指導(dǎo)。