一種用于晶體硅基太陽能電池晶片定位及標記的方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201810368543.7 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN108538961B | 公開(公告)日 | 2020-01-14 |
申請公布號 | CN108538961B | 申請公布日 | 2020-01-14 |
分類號 | H01L31/18(2006.01) | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 王俊; 王建強 | 申請(專利權)人 | 成都東騰薄膜太陽能有限公司 |
代理機構 | 成都頂峰專利事務所(普通合伙) | 代理人 | 華豐源(成都)新能源科技有限公司 |
地址 | 610000 四川省成都市雙流區(qū)西南航空港經濟開發(fā)區(qū)長城路二段2號創(chuàng)業(yè)中心 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明屬于太陽能電池晶片制造技術領域,公開了一種用于晶體硅基太陽能電池晶片定位及標記的方法,包括以下步驟:S1、用激光照射的方法在晶片的表面打出定位標記和追溯碼;S2、帶有定位標記和追溯碼的晶片進入后續(xù)工序時,后續(xù)工序讀取追溯碼并記錄到對應的工序中;后續(xù)工序以定位標記作為定位基準,對晶片進行操作。本發(fā)明通過在晶片的表面打出定位標記和追溯碼,使各工序都能夠以定位標記作為統(tǒng)一的定位基準,提高晶片的重復定位精度;通過后續(xù)工序讀取并存儲追溯碼,從而能夠追溯晶片是通過哪些設備和工序制作的,方便生產出的晶片出現(xiàn)問題時,查找問題。 |
