一種基于ATE通用CIS芯片測(cè)試系統(tǒng)及方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202210300651.7 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN114400195B 公開(kāi)（公告）日 2022-06-03
申請(qǐng)公布號(hào) CN114400195B 申請(qǐng)公布日 2022-06-03
分類(lèi)號(hào) H01L21/67（2006.01）I;G01R31/28（2006.01）I 分類(lèi) 基本電氣元件;
發(fā)明人 劉琨;左上勇;袁常樂(lè);王婷 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 南京偉測(cè)半導(dǎo)體科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海和華啟核知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 -
地址 211806江蘇省南京市浦口區(qū)浦口經(jīng)濟(jì)開(kāi)發(fā)區(qū)雙峰路69號(hào)C-93
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明揭示了一種基于ATE通用CIS芯片測(cè)試系統(tǒng)及方法，該系統(tǒng)包括：系統(tǒng)測(cè)試模塊、光源控制模塊、光源衰減模塊、光源校準(zhǔn)模塊、光源模塊以及分析處理模塊。本發(fā)明對(duì)光源控制模塊和光源衰減模塊進(jìn)行多檔位控制，達(dá)到高精度的目的，從而滿足測(cè)試芯片需要的測(cè)試光源，且可以使用自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備對(duì)光源控制模塊、光源衰減模塊和光源校準(zhǔn)模塊執(zhí)行精準(zhǔn)的校準(zhǔn)操作，進(jìn)一步消除由于光源驅(qū)動(dòng)電源不穩(wěn)定以及光源發(fā)光材料老化引起的光照強(qiáng)度的變化導(dǎo)致的測(cè)試光線光強(qiáng)發(fā)生變化，從而消除因此帶來(lái)的測(cè)試誤差，達(dá)到提高測(cè)試精準(zhǔn)度的目的。