一種基于測(cè)試封裝Mapping自動(dòng)檢查校驗(yàn)方法及系統(tǒng)
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202210299882.0 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN114416514A | 公開(kāi)（公告）日 | 2022-06-24 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN114416514A | 申請(qǐng)公布日 | 2022-06-24 |
| 分類號(hào) | G06F11/34;G06F11/32;G01R31/26;G06F40/186 | 分類 | 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù); |
| 發(fā)明人 | 楊栓;劉琨;關(guān)姜維;劉清華;李澤坤;雷慶汪 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 南京偉測(cè)半導(dǎo)體科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 鄭州裕晟知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（特殊普通合伙） | 代理人 | 王宇飛 |
| 地址 | 210000 江蘇省南京市浦口區(qū)浦口經(jīng)濟(jì)開(kāi)發(fā)區(qū)雙峰路69號(hào)C-93 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明涉及一種基于測(cè)試封裝Mapping自動(dòng)檢查校驗(yàn)方法及系統(tǒng)，自動(dòng)檢查校驗(yàn)方法包括：S1、確定待測(cè)關(guān)鍵參數(shù)；S2、構(gòu)建測(cè)試流程和測(cè)試數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)路徑；S3、創(chuàng)建模板Mapping信息源；S4、獲取被測(cè)試產(chǎn)品的測(cè)試Mapping信息；S5、將測(cè)試Mapping信息解析后與模板Mapping信息源進(jìn)行比對(duì)；S6、如果S5中的比對(duì)結(jié)果完全一致，則進(jìn)入下一流程，如果任一項(xiàng)對(duì)應(yīng)的子項(xiàng)信息不一致，則重復(fù)S5；自動(dòng)檢查校驗(yàn)系統(tǒng)包括處理單元和與處理單元通信連接的輸入單元、存儲(chǔ)單元、標(biāo)準(zhǔn)單元、探針臺(tái)、解析單元和分析單元；本發(fā)明能夠保證晶圓測(cè)試Map信息的可靠性和準(zhǔn)確性。 |
