一種基于ATE通用CIS芯片測試系統(tǒng)及方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210300651.7 申請日 -
公開（公告）號 CN114400195A 公開（公告）日 2022-04-26
申請公布號 CN114400195A 申請公布日 2022-04-26
分類號 H01L21/67（2006.01）I;G01R31/28（2006.01）I 分類 基本電氣元件;
發(fā)明人 劉琨;左上勇;袁常樂;王婷 申請（專利權(quán)）人 南京偉測半導(dǎo)體科技有限公司
代理機構(gòu) 上海和華啟核知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 王仙子
地址 211806江蘇省南京市浦口區(qū)浦口經(jīng)濟開發(fā)區(qū)雙峰路69號C-93
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明揭示了一種基于ATE通用CIS芯片測試系統(tǒng)及方法，該系統(tǒng)包括：系統(tǒng)測試模塊、光源控制模塊、光源衰減模塊、光源校準模塊、光源模塊以及分析處理模塊。本發(fā)明對光源控制模塊和光源衰減模塊進行多檔位控制，達到高精度的目的，從而滿足測試芯片需要的測試光源，且可以使用自動化測試設(shè)備對光源控制模塊、光源衰減模塊和光源校準模塊執(zhí)行精準的校準操作，進一步消除由于光源驅(qū)動電源不穩(wěn)定以及光源發(fā)光材料老化引起的光照強度的變化導(dǎo)致的測試光線光強發(fā)生變化，從而消除因此帶來的測試誤差，達到提高測試精準度的目的。