一種基于深度學(xué)習(xí)的閃存壽命預(yù)測方法、系統(tǒng)及計(jì)算機(jī)可讀存取介質(zhì)
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN201811545446.7 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN109817267B | 公開（公告）日 | 2021-02-26 |
| 申請公布號 | CN109817267B | 申請公布日 | 2021-02-26 |
| 分類號 | G11C16/34(2006.01)I;G06N3/04(2006.01)I | 分類 | 信息存儲; |
| 發(fā)明人 | 劉政林;王志強(qiáng);潘玉茜;張浩明;李四林 | 申請（專利權(quán)）人 | 武漢置富半導(dǎo)體技術(shù)有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 武漢藍(lán)寶石專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） | 代理人 | 廉海濤 |
| 地址 | 430000湖北省武漢市東湖新技術(shù)開發(fā)區(qū)關(guān)山一路1號華中曙光軟件園C幢306室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明涉及一種基于深度學(xué)習(xí)的閃存壽命預(yù)測方法、系統(tǒng)及計(jì)算機(jī)可讀存取介質(zhì)。本發(fā)明測量閃存的一種特征量或幾種特征量的組合，對所有特征量或組合部分特征量進(jìn)行數(shù)學(xué)運(yùn)算，將運(yùn)算結(jié)果或測量結(jié)果或運(yùn)算結(jié)果和測量結(jié)果的組合輸入到深度學(xué)習(xí)模型中，通過合適的模型計(jì)算得到閃存壽命的預(yù)測值。深度學(xué)習(xí)的方法通過卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)更加接近真實(shí)的神經(jīng)元，使用權(quán)值共享網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)減少了訓(xùn)練參數(shù)和計(jì)算復(fù)雜度，提高了泛化性能，循環(huán)卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)還能處理序列數(shù)據(jù)，更好的預(yù)測閃存壽命。?? |
