一種基于深度學(xué)習(xí)的閃存壽命預(yù)測(cè)方法、系統(tǒng)及計(jì)算機(jī)可讀存取介質(zhì)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201811545446.7 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN109817267A 公開(kāi)（公告）日 2019-05-28
申請(qǐng)公布號(hào) CN109817267A 申請(qǐng)公布日 2019-05-28
分類號(hào) G11C16/34;G06N3/04 分類 信息存儲(chǔ);
發(fā)明人 劉政林;王志強(qiáng);潘玉茜;張浩明;李四林 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 武漢置富半導(dǎo)體技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 武漢藍(lán)寶石專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 廉海濤
地址 518000 廣東省深圳市龍崗區(qū)坂田街道吉華路龍璧工業(yè)城13#2層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種基于深度學(xué)習(xí)的閃存壽命預(yù)測(cè)方法、系統(tǒng)及計(jì)算機(jī)可讀存取介質(zhì)。本發(fā)明測(cè)量閃存的一種特征量或幾種特征量的組合，對(duì)所有特征量或組合部分特征量進(jìn)行數(shù)學(xué)運(yùn)算，將運(yùn)算結(jié)果或測(cè)量結(jié)果或運(yùn)算結(jié)果和測(cè)量結(jié)果的組合輸入到深度學(xué)習(xí)模型中，通過(guò)合適的模型計(jì)算得到閃存壽命的預(yù)測(cè)值。深度學(xué)習(xí)的方法通過(guò)卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)更加接近真實(shí)的神經(jīng)元，使用權(quán)值共享網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)減少了訓(xùn)練參數(shù)和計(jì)算復(fù)雜度，提高了泛化性能，循環(huán)卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)還能處理序列數(shù)據(jù)，更好的預(yù)測(cè)閃存壽命。