一種基于深度學(xué)習(xí)的閃存壽命預(yù)測方法、系統(tǒng)及計算機(jī)可讀存取介質(zhì)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201811545446.7 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN109817267A | 公開(公告)日 | 2019-05-28 |
申請公布號 | CN109817267A | 申請公布日 | 2019-05-28 |
分類號 | G11C16/34;G06N3/04 | 分類 | 信息存儲; |
發(fā)明人 | 劉政林;王志強(qiáng);潘玉茜;張浩明;李四林 | 申請(專利權(quán))人 | 武漢置富半導(dǎo)體技術(shù)有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 武漢藍(lán)寶石專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) | 代理人 | 廉海濤 |
地址 | 518000 廣東省深圳市龍崗區(qū)坂田街道吉華路龍璧工業(yè)城13#2層 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明涉及一種基于深度學(xué)習(xí)的閃存壽命預(yù)測方法、系統(tǒng)及計算機(jī)可讀存取介質(zhì)。本發(fā)明測量閃存的一種特征量或幾種特征量的組合,對所有特征量或組合部分特征量進(jìn)行數(shù)學(xué)運(yùn)算,將運(yùn)算結(jié)果或測量結(jié)果或運(yùn)算結(jié)果和測量結(jié)果的組合輸入到深度學(xué)習(xí)模型中,通過合適的模型計算得到閃存壽命的預(yù)測值。深度學(xué)習(xí)的方法通過卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)更加接近真實的神經(jīng)元,使用權(quán)值共享網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)減少了訓(xùn)練參數(shù)和計算復(fù)雜度,提高了泛化性能,循環(huán)卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)還能處理序列數(shù)據(jù),更好的預(yù)測閃存壽命。 |
