一種基于操作時間或電流判斷閃存芯片可靠性的方法及測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201810502719.3 申請日 -
公開（公告）號 CN108831517B 公開（公告）日 2021-04-27
申請公布號 CN108831517B 申請公布日 2021-04-27
分類號 G11C29/56 分類 信息存儲;
發(fā)明人 潘玉茜;李四林 申請（專利權(quán)）人 武漢置富半導體技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) 武漢藍寶石專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 廉海濤
地址 430000 湖北省武漢市東湖新技術(shù)開發(fā)區(qū)關(guān)山一路1號華中曙光軟件園藍域·商界2號樓3層304-5
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明屬于閃存芯片可靠性測試技術(shù)，尤其是涉及一種通過操作時間或電流判斷閃存芯片可靠性的方法及測試裝置。本發(fā)明首先通過測試裝置采集樣本閃存芯片的操作時間或電流，然后對數(shù)據(jù)進行分析處理，建立數(shù)據(jù)與閃存芯片可靠性的對應關(guān)系，再由測試裝置收集待測閃存芯片的操作時間和電流，最后結(jié)合可靠性的對應關(guān)系判斷待測芯片的可靠性。本發(fā)明中提出的判斷閃存芯片可靠性方法與一般方法相比，不易受到閃存中存儲數(shù)據(jù)取值的干擾，同時克服了一般方法無法有效防止閃存突然失效而造成數(shù)據(jù)損失的缺點。