一種高低溫閃存測試系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202020107790.4 申請日 -
公開（公告）號 CN211016547U 公開（公告）日 2020-07-14
申請公布號 CN211016547U 申請公布日 2020-07-14
分類號 G11C29/56(2006.01)I;H05K7/20(2006.01)I 分類 -
發(fā)明人 張浩明;李四林 申請（專利權(quán)）人 武漢置富半導(dǎo)體技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) 武漢藍寶石專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 謝洋
地址 430000湖北省武漢市東湖新技術(shù)開發(fā)區(qū)關(guān)山一路1號華中曙光軟件園C幢306室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種高低溫閃存測試系統(tǒng)，包括測試儀本體，所述測試儀本體的上部設(shè)有測試座，所述測試座的一端通過連接軸座連接有覆壓板，所述測試座的另一端連接有卡合座，所述測試儀本體內(nèi)安裝有散熱風(fēng)機，所述測試儀本體上通過安裝座安裝有加熱板，所述測試儀本體內(nèi)安裝有控制模塊，所述控制模塊電性連接調(diào)壓模塊，所述調(diào)壓模塊電性連接市電網(wǎng)，所述控制模塊電性連接顯示屏、指示燈、加熱板、散熱風(fēng)機和測溫模塊；本實用新型在測試儀本體內(nèi)設(shè)有散熱風(fēng)機，實現(xiàn)在低溫或著是常溫下進行檢測閃存卡，在測試儀本體內(nèi)設(shè)有加熱板，使得閃存卡能夠在高溫下進行檢測，并且設(shè)有測溫模塊，實現(xiàn)對環(huán)境的參數(shù)進行檢測。??