一種基于特征量的閃存壽命預測方法、系統(tǒng)及存儲介質

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201811545443.3 申請日 -
公開（公告）號 CN109830255B 公開（公告）日 2019-05-31
申請公布號 CN109830255B 申請公布日 2019-05-31
分類號 G11C16/34(2006.01)I;G11C29/56(2006.01)I 分類 信息存儲;
發(fā)明人 劉政林;潘玉茜;張浩明;李四林 申請（專利權）人 武漢置富半導體技術有限公司
代理機構 武漢藍寶石專利代理事務所（特殊普通合伙） 代理人 廉海濤
地址 430000湖北省武漢市東湖新技術開發(fā)區(qū)關山一路1號華中曙光軟件園C幢306室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種基于特征量的閃存壽命預測方法、系統(tǒng)及存儲介質，測量閃存的一種特征量或幾種特征量的組合，對所有特征量或組合中部分特征量進行運算，將運算結果或測量結果或運算結果和測量結果的組合按一定規(guī)則計算或判斷，通過計算或判斷結果預測閃存的使用壽命。本發(fā)明以多種閃存自身的特征量為基礎預測閃存的壽命，與僅以一種特征量為依據的壽命預測方法相比預測壽命值的準確度更高，且應用范圍廣泛，可通過多種方式實現，具有較高的實用性。??