一種基于特征量的閃存壽命預(yù)測(cè)方法、系統(tǒng)及存儲(chǔ)介質(zhì)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201811545443.3 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN109830255A 公開（公告）日 2019-05-31
申請(qǐng)公布號(hào) CN109830255A 申請(qǐng)公布日 2019-05-31
分類號(hào) G11C16/34（2006.01）I; G11C29/56（2006.01）I 分類 信息存儲(chǔ);
發(fā)明人 劉政林; 潘玉茜; 張浩明; 李四林 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 武漢置富半導(dǎo)體技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 武漢藍(lán)寶石專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 廉海濤
地址 430000 湖北省武漢市東湖新技術(shù)開發(fā)區(qū)關(guān)山一路1號(hào)華中曙光軟件園C幢306室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種基于特征量的閃存壽命預(yù)測(cè)方法、系統(tǒng)及存儲(chǔ)介質(zhì)，測(cè)量閃存的一種特征量或幾種特征量的組合，對(duì)所有特征量或組合中部分特征量進(jìn)行運(yùn)算，將運(yùn)算結(jié)果或測(cè)量結(jié)果或運(yùn)算結(jié)果和測(cè)量結(jié)果的組合按一定規(guī)則計(jì)算或判斷，通過計(jì)算或判斷結(jié)果預(yù)測(cè)閃存的使用壽命。本發(fā)明以多種閃存自身的特征量為基礎(chǔ)預(yù)測(cè)閃存的壽命，與僅以一種特征量為依據(jù)的壽命預(yù)測(cè)方法相比預(yù)測(cè)壽命值的準(zhǔn)確度更高，且應(yīng)用范圍廣泛，可通過多種方式實(shí)現(xiàn)，具有較高的實(shí)用性。