一種抑制區(qū)熔級(jí)多晶硅CVD過程中硅枝晶生長的界面浸潤性調(diào)控方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202110573715.6 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN113387360A | 公開(公告)日 | 2021-09-14 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN113387360A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-09-14 |
分類號(hào) | C01B33/035(2006.01)I | 分類 | 無機(jī)化學(xué); |
發(fā)明人 | 梁正;孟國均;李建設(shè);呂永峰;郭蕊;錢光凝;儀得志;陳源茂;劉紀(jì)江;丁遠(yuǎn)清 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 河南硅烷科技發(fā)展股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 上海旭誠知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 鄭立 |
地址 | 461700河南省許昌市襄城縣煤焦化循環(huán)經(jīng)濟(jì)產(chǎn)業(yè)園 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種抑制區(qū)熔級(jí)多晶硅CVD過程中硅枝晶生長的界面浸潤性調(diào)控方法,涉及區(qū)熔級(jí)多晶硅領(lǐng)域,包括U型硅芯表面除去表面雜質(zhì);置于熱裂解爐反應(yīng)器內(nèi)部,用氮?dú)庵脫Q空氣;用氫氣置換氮?dú)?;持續(xù)通入氫氣,對(duì)反應(yīng)器內(nèi)硅芯加載電流,使硅芯表面氧化層還原,調(diào)控其浸潤性并構(gòu)筑“超親硅”表面;調(diào)節(jié)電流控制硅芯達(dá)到反應(yīng)溫度,通入高純硅烷和高純氫氣的混合氣,硅烷在硅芯表面高溫裂解,產(chǎn)物硅在“超親硅”硅芯表面均勻成核、“層狀生長”,最終得到致密的多晶硅棒。本發(fā)明通過表界面調(diào)控,降低成核勢(shì)壘,可有效抑制硅沉積過程中的“島狀生長”與硅枝晶問題,從而獲得滿足區(qū)熔級(jí)多晶硅力學(xué)性能的產(chǎn)品,設(shè)計(jì)合理,操作方便,實(shí)用性強(qiáng)。 |
