一種基于無人機(jī)和深度學(xué)習(xí)的農(nóng)作物雜草檢測(cè)方法及裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202210267089.2 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN114648500A 公開（公告）日 2022-06-21
申請(qǐng)公布號(hào) CN114648500A 申請(qǐng)公布日 2022-06-21
分類號(hào) G06T7/00（2017.01）I;G06N3/04（2006.01）I;G06N3/08（2006.01）I;G06T5/50（2006.01）I;G01S19/42（2010.01）I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 羅強(qiáng);韓潤(rùn)華;殷志堅(jiān);楊貞;余亮;熊朝松 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 江西科技師范大學(xué)
代理機(jī)構(gòu) 杭州君度專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 -
地址 330036江西省南昌市紅谷灘新區(qū)紅角洲學(xué)府大道589號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種基于無人機(jī)和深度學(xué)習(xí)的農(nóng)作物雜草檢測(cè)方法及裝置。該裝置通過固定在無人機(jī)上的控制模塊和視覺模塊進(jìn)行實(shí)時(shí)掃描與檢測(cè)，并通過定位模塊返回雜草坐標(biāo)。該方法包括：拍攝制作農(nóng)作物雜草數(shù)據(jù)集；然后在FPN部分添加改進(jìn)注意力模塊的NanoDet作為識(shí)別模型，使用公共農(nóng)作物雜草數(shù)據(jù)集訓(xùn)練模型；再將改進(jìn)的NanoDet檢測(cè)算法和訓(xùn)練好的模型移植到無人機(jī)上，操作無人機(jī)獲取圖像，檢測(cè)算法通過讀取圖像進(jìn)行實(shí)時(shí)檢測(cè)；最后，通過GPS將檢測(cè)到雜草所在的坐標(biāo)進(jìn)行定位，傳輸回后臺(tái)以待下一步的除草任務(wù)。本方法提升了現(xiàn)有算法的檢測(cè)精度，配合無人機(jī)能實(shí)現(xiàn)高效、精確的雜草檢測(cè)坐標(biāo)，為科學(xué)管理農(nóng)田提供了新的方法。