用于標(biāo)定空間坐標(biāo)測量儀器的誤差的方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202210085583.7 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN114396902A 公開（公告）日 2022-04-26
申請(qǐng)公布號(hào) CN114396902A 申請(qǐng)公布日 2022-04-26
分類號(hào) G01B21/00（2006.01）I;G01B11/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張和君;廖學(xué)文;陳源;常立超 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 深圳市中圖儀器股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳舍穆專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 黃賢炬
地址 518000廣東省深圳市南山區(qū)西麗街道學(xué)苑大道1001號(hào)南山智園B1棟2樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明描述了一種用于標(biāo)定空間坐標(biāo)測量儀器的誤差的方法，包括：測量標(biāo)準(zhǔn)桿的實(shí)際長度作為第一測長值；將空間坐標(biāo)測量儀器置于承載面的支撐裝置；以垂直于承載面的方式固定標(biāo)準(zhǔn)桿，對(duì)標(biāo)準(zhǔn)桿的長度進(jìn)行測量以獲得第二測長值；以平行于承載面的方式固定標(biāo)準(zhǔn)桿，對(duì)標(biāo)準(zhǔn)桿的長度進(jìn)行測量以獲得第三測長值；令中心位置與基準(zhǔn)部的基準(zhǔn)面的凹槽狀中心之間的距離為基準(zhǔn)距離，基于第一測長值和第二測長值標(biāo)定與基準(zhǔn)距離相匹配的基準(zhǔn)距離誤差值；令第一旋轉(zhuǎn)軸的軸線和第二旋轉(zhuǎn)軸的軸線的線間距為異面誤差值，基于第一測長值、第三測長值、以及基準(zhǔn)距離誤差值標(biāo)定異面誤差值。根據(jù)本發(fā)明，能夠提供一種提高空間坐標(biāo)測量儀器的綜合測量精度的方法。