一種基于納米孔的實(shí)驗(yàn)裝置及實(shí)驗(yàn)方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210337413.3 申請日 -
公開（公告）號 CN114705743A 公開（公告）日 2022-07-05
申請公布號 CN114705743A 申請公布日 2022-07-05
分類號 G01N27/416（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 古志遠(yuǎn);殷云棟;楊磊 申請（專利權(quán)）人 南京師范大學(xué)
代理機(jī)構(gòu) 南京蘇高專利商標(biāo)事務(wù)所（普通合伙） 代理人 -
地址 210046江蘇省南京市棲霞區(qū)文苑路1號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開一種基于納米孔的實(shí)驗(yàn)裝置及實(shí)驗(yàn)方法，實(shí)驗(yàn)裝置包括：操作單元，包括兩彈性墊片、緊密貼合于兩彈性墊片之間的基板，每一彈性墊片開設(shè)貫穿彈性墊片的通孔，基板具有氮化硅片，兩通孔分別暴露氮化硅片兩側(cè)表面，氮化硅片開設(shè)前后貫穿氮化硅片的納米孔；第一液池，具有第一容置腔；第二液池，具有第二容置腔，操作單元豎向夾緊于第一液池的開口與第二液池的開口之間，通過卡箍夾緊第一液池與第二液池外側(cè)以使操作單元分隔第一容置腔與第二容置腔，第一容置腔容置有第一溶液，第二容置腔容置有第二溶液；調(diào)節(jié)裝置，設(shè)于第一液池與第二液池之間，用于進(jìn)行基于納米孔的實(shí)驗(yàn)裝置重復(fù)拆裝實(shí)驗(yàn)及單分子穿孔檢測實(shí)驗(yàn)。