一種非對稱MOSFET及其制造方法以及半導(dǎo)體器件
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202010110911.5 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113299554A | 公開(公告)日 | 2021-08-24 |
申請公布號 | CN113299554A | 申請公布日 | 2021-08-24 |
分類號 | H01L21/336(2006.01)I;H01L29/786(2006.01)I;H01L27/088(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 劉森;戴彬;史林森;劉筱偉 | 申請(專利權(quán))人 | 微龕(廣州)半導(dǎo)體有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 上海光華專利事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 余明偉 |
地址 | 510663廣東省廣州市高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)科學(xué)大道18號A棟十一層1101單元 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提供一種非對稱MOSFET及其制造方法以及半導(dǎo)體器件,非對稱MOSFET形成在絕緣體上硅襯底上,并且源極區(qū)的輕摻雜區(qū)的長度小于漏極區(qū)的輕摻雜區(qū)的長度,或者源極區(qū)沒有輕摻雜區(qū)。由于絕緣體上硅襯底自身的特點(diǎn),使得絕緣體上硅比體硅能夠?qū)崿F(xiàn)更淺的源漏結(jié),因而能夠制造更高速度的晶體管。尤其對于30nm以下的晶體管工藝,采用絕緣體上硅是提高晶體管速度的優(yōu)良解決方案。本發(fā)明的制造方法與傳統(tǒng)的非對稱MOSFET制造工藝兼容,整個過程不會產(chǎn)生成本的提高。半導(dǎo)體器件中非對稱MOSFET的不同的排布方式不需要增加光掩模版,也不會增加工藝控制的復(fù)雜度和傾斜角的控制難度,同時增加了實際電路使用中的豐富度。 |
