一種光罩工藝誤差修正方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202011276292.3 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN112180678A | 公開(公告)日 | 2021-01-05 |
申請公布號 | CN112180678A | 申請公布日 | 2021-01-05 |
分類號 | G03F1/72;G03F7/20;H01L21/027 | 分類 | 攝影術(shù);電影術(shù);利用了光波以外其他波的類似技術(shù);電記錄術(shù);全息攝影術(shù)〔4〕; |
發(fā)明人 | 張家瑋;蔡奇澄;黃鉦為;周育潤 | 申請(專利權(quán))人 | 泉意光罩光電科技(濟南)有限公司 |
代理機構(gòu) | 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) | 代理人 | 張洋 |
地址 | 250000 山東省濟南市高新區(qū)機場路7617號411-2-9室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種光罩工藝誤差修正方法,涉及元器件制造技術(shù)領(lǐng)域。該方法包括:根據(jù)預(yù)設(shè)曝光強度對器件進行曝光處理;獲取曝光處理后的器件表面光罩圖案的各區(qū)域的多個線寬,區(qū)域根據(jù)待形成圖案的疏密程度劃分有疏區(qū)和至少一個密區(qū);根據(jù)密區(qū)的線寬與疏區(qū)的線寬的差值,以及每個密區(qū)所在的位置,計算密區(qū)的預(yù)設(shè)曝光強度的調(diào)整量。上述方法根據(jù)曝光處理后光罩圖案的變化數(shù)據(jù),對曝光光線的反射量進行預(yù)估,并對預(yù)設(shè)曝光強度進行調(diào)整,動態(tài)地修正光罩工藝中的參數(shù),使得到的光罩圖案的線寬在誤差允許的范圍內(nèi)穩(wěn)定波動,降低了光罩生產(chǎn)的成本,也使光罩的品質(zhì)維持在較高的水平內(nèi)。 |
