半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)及其形成方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202210038158.2 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN114496795A | 公開(公告)日 | 2022-05-13 |
申請公布號 | CN114496795A | 申請公布日 | 2022-05-13 |
分類號 | H01L21/336(2006.01)I;H01L29/78(2006.01)I;H01L29/423(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 魏峰;相奇;戴學(xué)春 | 申請(專利權(quán))人 | 廣東芯粵能半導(dǎo)體有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 深圳市嘉勤知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | - |
地址 | 510000廣東省廣州市南沙區(qū)黃閣鎮(zhèn)金茂西二街2號103房之六 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請公開一種半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)及其形成方法,所述半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)包括:提供基底,在所述基底內(nèi)形成具有第一深度的第一溝槽;在所述第一溝槽的側(cè)壁表面形成犧牲層;沿形成有所述犧牲層的所述第一溝槽刻蝕所述基底,形成位于所述第一溝槽下方的第二溝槽;在所述第二溝槽的內(nèi)壁形成隔離層;去除所述犧牲層,暴露出所述第一溝槽的側(cè)壁;在所述第一溝槽的側(cè)壁表面形成柵介質(zhì)層。所述半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的性能得到提高。 |
