一種熱敏探測(cè)器性能參數(shù)測(cè)試結(jié)構(gòu)和測(cè)試方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110285398.8 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)(公告)號(hào) CN113219317B 公開(kāi)(公告)日 2022-03-15
申請(qǐng)公布號(hào) CN113219317B 申請(qǐng)公布日 2022-03-15
分類(lèi)號(hào) G01R31/265(2006.01)I 分類(lèi) 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 黃鵬;傅劍宇;周瓊;劉超;侯影;馮萬(wàn)進(jìn);陳大鵬 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人 無(wú)錫物聯(lián)網(wǎng)創(chuàng)新中心有限公司
代理機(jī)構(gòu) 無(wú)錫市大為專(zhuān)利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 代理人 殷紅梅
地址 214135江蘇省無(wú)錫市新區(qū)菱湖大道200號(hào)中國(guó)傳感網(wǎng)國(guó)際創(chuàng)新園E2座112
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及MEMS器件性能參數(shù)測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,具體公開(kāi)了一種熱敏探測(cè)器性能參數(shù)測(cè)試結(jié)構(gòu),包括敏感區(qū)、懸臂梁和框架,其中,敏感區(qū)通過(guò)懸臂梁分別與兩組框架連接,并懸空;框架關(guān)于敏感區(qū)左右對(duì)稱(chēng)設(shè)置,敏感區(qū)內(nèi)設(shè)置有電阻和熱敏單元,懸臂梁內(nèi)設(shè)置有多條導(dǎo)線,框架上設(shè)置有第一電連接端口和第二電連接端口,電阻通過(guò)兩組導(dǎo)線分別與兩組第一電連接端口連接,熱敏單元通過(guò)兩組導(dǎo)線分別與兩組第二電連接端口連接。本發(fā)明還公開(kāi)了一種熱敏探測(cè)器性能參數(shù)測(cè)試方法。本發(fā)明提供的一種熱敏探測(cè)器性能參數(shù)測(cè)試結(jié)構(gòu),具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、操作方便、測(cè)量準(zhǔn)確等特點(diǎn)。