一種基于布里淵相移解調(diào)的布里淵光時(shí)域分析方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910372710.X 申請日 -
公開（公告）號 CN109974760B 公開（公告）日 2021-08-03
申請公布號 CN109974760B 申請公布日 2021-08-03
分類號 G01D5/353（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 閆連山;何海軍;李宗雷;張信普;潘煒 申請（專利權(quán)）人 安捷光通科技成都有限公司
代理機(jī)構(gòu) 成都信博專利代理有限責(zé)任公司 代理人 劉凱
地址 610031四川省成都市二環(huán)路北一段111號西南交通大學(xué)科技處
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種基于布里淵相移解調(diào)的布里淵光時(shí)域分析系統(tǒng)，由光路檢測和電路解調(diào)兩部分組成；光路采用對稱雙邊帶布里淵光時(shí)域分析系統(tǒng)，探測光采用馬赫曾德爾調(diào)制器和相位調(diào)制器級聯(lián)調(diào)制產(chǎn)生，第一級調(diào)制產(chǎn)生的光作為與泵浦相互作用的光，第二級產(chǎn)生的光作為輔助光消除相位噪聲，接收端相干探測；電路則采用包絡(luò)檢波的方式解調(diào)信號。本發(fā)明系統(tǒng)簡單，易實(shí)現(xiàn)、易調(diào)節(jié)；單通道、低采樣率，數(shù)據(jù)量少；能獲得很高的布里淵相位測量精度和高穩(wěn)定性。