CSP性能測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202022862272.6 申請日 -
公開（公告）號 CN213957633U 公開（公告）日 2021-08-13
申請公布號 CN213957633U 申請公布日 2021-08-13
分類號 G01S19/23（2010.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 王召燦;何玉建;吳明春 申請（專利權(quán)）人 江西省晶能半導體有限公司
代理機構(gòu) - 代理人 -
地址 330096江西省南昌市高新開發(fā)區(qū)艾溪湖北路699號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型提供了一種CSP性能測試裝置，包括：固定于積分球表面、用于接收CSP出光的收光窗口，及可移動的設(shè)置于收光件上方、用于為CSP通電的探針，其中，收光窗口中包括：柱狀收光件，固定設(shè)置于積分球表面，柱狀收光件內(nèi)部中空且上端面內(nèi)部沿中心方向設(shè)置有一凸臺，凸臺下方內(nèi)壁設(shè)置有螺孔；透明支撐件，部分卡持于凸臺下方、部分位于凸臺外且與柱狀收光件的上表面高度齊平；窗口板，置于透明支撐件下方，尺寸與透明支撐件下方的空間尺寸匹配；窗口板中包括一透光孔，且透光孔的面積較CSP出光側(cè)表面的面積??；及螺絲，內(nèi)部中空且通過柱狀收光件內(nèi)壁的螺孔將窗口板和支撐件固定卡持于凸臺下方。解決現(xiàn)有整體帶膜測試中出現(xiàn)的邊緣效應的技術(shù)問題，提高測試效率。