一種調試芯片的方法及裝置
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN201811620324.X | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN109407655B | 公開（公告）日 | 2021-05-25 |
| 申請公布號 | CN109407655B | 申請公布日 | 2021-05-25 |
| 分類號 | G05B23/02(2006.01)I | 分類 | - |
| 發(fā)明人 | 萬紅星 | 申請（專利權）人 | 重慶中星微人工智能芯片技術有限公司 |
| 代理機構 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 401120 重慶市北碚區(qū)云漢大道117號附338號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明實施例提供了一種調試芯片的方法及裝置，用于解決芯片內部模塊在線功能調試和檢測的問題。該方法包括：接收JTAG控制器發(fā)送的第一控制指令，第一控制指令包括接口選擇信息；根據(jù)接口選擇信息選擇與總線連接的芯片的多個測試接口中的第一測試接口傳輸芯片的測試結果信號；接收總線傳輸?shù)臏y試結果信號；發(fā)送測試結果信號至JTAG控制器，以供調試使用。通過利用JTAG控制器進行芯片內部模塊在線功能調試和檢測，避免了對芯片定義冗余的調試接口，使對芯片內部模塊的功能的在線調試和檢測更為便捷，提高測試效率。?? |
