具有MIM電容器的半導(dǎo)體器件及其制備方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202111327784.5 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN114220917A | 公開(公告)日 | 2022-03-22 |
申請公布號 | CN114220917A | 申請公布日 | 2022-03-22 |
分類號 | H01L49/02(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 曹文康 | 申請(專利權(quán))人 | 杭州富芯半導(dǎo)體有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 上海光華專利事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 盧炳瓊 |
地址 | 310000浙江省杭州市濱江區(qū)西興街道聯(lián)慧街6號1-1301 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提供一種具有MIM電容器的半導(dǎo)體器件及制備方法。制備方法包括:提供襯底,于襯底上依次形成底電極層和第一介質(zhì)層;在第一掩膜的作用下對第一介質(zhì)層進(jìn)行光刻刻蝕,以形成位于MIM電容區(qū)的MIM電容器通孔和位于非MIM電容區(qū)的導(dǎo)電插塞通孔;依次形成互連金屬層和第二介質(zhì)層;進(jìn)行表面平坦化處理以去除MIM電容器通孔及導(dǎo)電插塞外的互連金屬層和第二介質(zhì)層;在第二掩膜的作用下,于MIM電容器通孔的第二介質(zhì)層表面和導(dǎo)電插塞的表面形成上極板金屬層,位于MIM電容器通孔內(nèi)的互連金屬層、第二介質(zhì)層和上極板金屬層構(gòu)成MIM電容器,MIM電容器的上極板金屬層和導(dǎo)電插塞表面的上極板金屬層相互電隔離。本發(fā)明通過減少掩膜的使用可降低生產(chǎn)成本和提高生產(chǎn)效率。 |
