一種多工位FT芯片測(cè)試系統(tǒng)及方法
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202210330046.4 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN114705970A | 公開(kāi)（公告）日 | 2022-07-05 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN114705970A | 申請(qǐng)公布日 | 2022-07-05 |
| 分類(lèi)號(hào) | G01R31/28（2006.01）I | 分類(lèi) | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 王亮亮 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 天水華天科技股份有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 西安通大專利代理有限責(zé)任公司 | 代理人 | - |
| 地址 | 741000甘肅省天水市秦州區(qū)雙橋路14號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明提供一種多工位FT芯片測(cè)試系統(tǒng)及方法，包括控制處理系統(tǒng)COMPUTER、系統(tǒng)總線BUS、ATE設(shè)備和多個(gè)測(cè)試板DUT，控制處理系統(tǒng)COMPUTER連接系統(tǒng)總線BUS，系統(tǒng)總線BUS包括測(cè)試站STATION，測(cè)試站STATION提供給用戶多個(gè)64引腳接口，這些接口連接多個(gè)測(cè)試板DUT，測(cè)試站STATION的多個(gè)64引腳接口和測(cè)試板DUT對(duì)應(yīng)連接形成測(cè)試工位，待測(cè)芯片在多個(gè)測(cè)試工位上實(shí)現(xiàn)并行測(cè)試，單個(gè)測(cè)試工位芯片測(cè)試時(shí)間不變，僅需在測(cè)試充電截止電壓過(guò)程中對(duì)多個(gè)測(cè)試工位進(jìn)行標(biāo)定，進(jìn)而避免多工位掃描過(guò)程中測(cè)試數(shù)據(jù)不會(huì)彼此覆蓋，保證測(cè)試結(jié)果的唯一性，其余測(cè)試過(guò)程與現(xiàn)有技術(shù)相同，進(jìn)而極大地提高了芯片質(zhì)量的測(cè)試效率，降低了芯片的測(cè)試成本。 |
