一種多工位FT芯片測試系統(tǒng)及方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210330046.4 申請日 -
公開（公告）號 CN114705970A 公開（公告）日 2022-07-05
申請公布號 CN114705970A 申請公布日 2022-07-05
分類號 G01R31/28（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 王亮亮 申請（專利權）人 天水華天科技股份有限公司
代理機構 西安通大專利代理有限責任公司 代理人 -
地址 741000甘肅省天水市秦州區(qū)雙橋路14號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種多工位FT芯片測試系統(tǒng)及方法，包括控制處理系統(tǒng)COMPUTER、系統(tǒng)總線BUS、ATE設備和多個測試板DUT，控制處理系統(tǒng)COMPUTER連接系統(tǒng)總線BUS，系統(tǒng)總線BUS包括測試站STATION，測試站STATION提供給用戶多個64引腳接口，這些接口連接多個測試板DUT，測試站STATION的多個64引腳接口和測試板DUT對應連接形成測試工位，待測芯片在多個測試工位上實現(xiàn)并行測試，單個測試工位芯片測試時間不變，僅需在測試充電截止電壓過程中對多個測試工位進行標定，進而避免多工位掃描過程中測試數(shù)據(jù)不會彼此覆蓋，保證測試結果的唯一性，其余測試過程與現(xiàn)有技術相同，進而極大地提高了芯片質量的測試效率，降低了芯片的測試成本。