一種異形工件斷面輪廓線提取和分析方法和裝置
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110752237.5 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113450379A | 公開(公告)日 | 2021-09-28 |
申請公布號 | CN113450379A | 申請公布日 | 2021-09-28 |
分類號 | G06T7/13(2017.01)I;G06T7/62(2017.01)I;G06T17/00(2006.01)I;G06T7/00(2017.01)I;G06T5/00(2006.01)I;G06F17/16(2006.01)I;G01B11/24(2006.01)I | 分類 | 計算;推算;計數(shù); |
發(fā)明人 | 呂冰冰;周天;羅偉;何暢 | 申請(專利權)人 | 湖南國天電子科技有限公司 |
代理機構 | 長沙大珂知識產(chǎn)權代理事務所(普通合伙) | 代理人 | 伍志祥 |
地址 | 410000湖南省長沙市岳麓西大道芯城科技園3棟12層 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提供一種異形工件斷面輪廓線提取和分析方法和裝置,方法包括以下步驟:對待測工件表面預處理,標記工件斷面輪廓線上被測量目標點,確定激光掃描儀和被測量目標點的位置坐標;采用激光掃描儀自動掃描和數(shù)據(jù)采集,并進行靶點校準;采用最小二乘法進行數(shù)據(jù)邊界的擬合和數(shù)據(jù)拼接,并進行二次處理,得到測量目標表面完整的三維坐標信息;根據(jù)需求代入剖切參數(shù),對所有坐標散點進行分割并采用KNN?D算法降低數(shù)據(jù)密度,計算最優(yōu)斷面路徑,提取斷面輪廓線序節(jié)點坐標;輸出斷面統(tǒng)計特征參數(shù),并進一步輸出斷面輪廓線。本專利提供的方法和裝置較好的解決了異形件全流程智能化快速測量的目的,能實現(xiàn)高度自動化,達到節(jié)約大量人工測量成本的目的。 |
