基于射頻指紋SEV的電磁信號與裝備關(guān)聯(lián)分析方法和系統(tǒng)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202010161148.9 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN111401185A | 公開(公告)日 | 2020-07-10 |
申請公布號 | CN111401185A | 申請公布日 | 2020-07-10 |
分類號 | G06K9/00(2006.01)I | 分類 | - |
發(fā)明人 | 吳國榮;夏亮;胡謙;劉海濤;易志鴻 | 申請(專利權(quán))人 | 北京波爾通信技術(shù)股份有限公司 |
代理機構(gòu) | 北京匯彩知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 王鍵 |
地址 | 100193北京市海淀區(qū)中關(guān)村軟件園一期9號樓C座 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提供一種基于射頻指紋SEV的電磁信號與裝備關(guān)聯(lián)分析方法和系統(tǒng),使用輻射源個體確認(rèn)技術(shù),進行未知電磁信號與已知裝備的關(guān)聯(lián)分析,解決輻射源指紋識別中的開集識別問題,使未知電磁信號能被有效識別和關(guān)聯(lián)。本發(fā)明的方法是:首先提取獲取的電磁信號的常規(guī)特征參數(shù),從已建立的裝備目標(biāo)庫中篩選出與所提取的常規(guī)特征參數(shù)相吻合的候選目標(biāo),組成候選目標(biāo)子集;再提取所述電磁信號的射頻指紋特征,以虛警率為衡量標(biāo)準(zhǔn),選取SEV判決門限,在候選目標(biāo)子集上執(zhí)行SEV,實現(xiàn)合理的識別與拒識;最后將SEV執(zhí)行結(jié)果與裝備目標(biāo)庫中的已知裝備進行航跡融合與目標(biāo)確認(rèn),完成電磁信號與裝備的關(guān)聯(lián)分析。?? |
