基于雙發(fā)雙收相位測量的校準方法及其測距裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201310073631.1 申請日 -
公開（公告）號 CN104035099B 公開（公告）日 2017-02-01
申請公布號 CN104035099B 申請公布日 2017-02-01
分類號 G01S17/36(2006.01)I;G01S7/497(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 杜鑫;喬佰文;查曉怡;劉茜 申請（專利權(quán)）人 江蘇徠茲智能裝備科技股份有限公司
代理機構(gòu) 上海市錦天城律師事務(wù)所 代理人 江蘇徠茲測控科技有限公司;喬佰文
地址 江蘇省常州市鐘樓區(qū)龍城大道2188號新閘工業(yè)園11棟3樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及相位式光電測距領(lǐng)域，提供了一種基于雙發(fā)射雙接收相位測量的校準方法和測距裝置，包括：步驟1為外光路的形成，步驟2為內(nèi)光路的形成以及步驟3為第二接收裝置先后接收到的內(nèi)、外光路第二部分信號與第一接收裝置先后接收到的內(nèi)、外光路第一部分信號進行相位比較，輸出消除部分基底參考的兩路相位信號，再對所述消除部分基底參考的兩路信號進行相位比較，輸出最終消除基底參考的相位信號，其測距裝置包括：發(fā)射裝置、光電轉(zhuǎn)換裝置、反射面、其他反射片、濾光片和鑒相器，本發(fā)明實現(xiàn)了相位補償和校準的目的，避免了環(huán)境變化在電路中引入不確定的相位噪音，提高測距精度，降低了系統(tǒng)的成本。