一種相位測(cè)量的校準(zhǔn)方法、裝置及測(cè)量裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201410251075.7 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN103983962B 公開（公告）日 2018-06-05
申請(qǐng)公布號(hào) CN103983962B 申請(qǐng)公布日 2018-06-05
分類號(hào) G01S7/497 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 杜學(xué)璋 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 江蘇徠茲智能裝備科技股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海市錦天城律師事務(wù)所 代理人 江蘇徠茲測(cè)控科技有限公司;喬佰文
地址 213012 江蘇省常州市鐘樓區(qū)龍城大道2188號(hào)新閘工業(yè)園11棟3樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種相位測(cè)量的校準(zhǔn)方法，該方法包括：第一光波發(fā)射裝置發(fā)射第一光波，第一光波一部分被被測(cè)目標(biāo)反射折回后被第一接收裝置接收，作為外光路信號(hào)，第一光波另一部分被第二接收裝置接收，作為基底參考的第一內(nèi)光路信號(hào)；第二光波發(fā)射裝置發(fā)射第二光波，第二光波一部分被第一接收裝置接收，作為第二內(nèi)光路信號(hào)，第二光波另一部分被第二接收裝置接收，作為第三內(nèi)光路信號(hào)；第一接收裝置與第二接收裝置將先后接收到的光波進(jìn)行相位比較，輸出消除基底的信號(hào)。本發(fā)明提供的方法減小了環(huán)境因素對(duì)測(cè)距誤差的影響，增加了系統(tǒng)的測(cè)距穩(wěn)定度，降低了系統(tǒng)對(duì)元器件的性能要求，從而降低了系統(tǒng)成本。