正弦條紋投影裝置以及三維輪廓測量方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201010130537.1 申請日 -
公開（公告）號 CN101936718A 公開（公告）日 2011-01-05
申請公布號 CN101936718A 申請公布日 2011-01-05
分類號 G01B11/25(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 徐亦新;李強;盛鵬;張棟;黃豪 申請（專利權）人 上海復蝶智能科技有限公司
代理機構 上海智信專利代理有限公司 代理人 上海復蝶智能科技有限公司
地址 200437 上海市楊浦區(qū)邯鄲路100號61棟129室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了三種正弦條紋投影裝置以及一種利用該正弦條紋投影裝置實現(xiàn)的三維輪廓測量方法，該方法包括：S1、校正從該正弦條紋投影裝置出射的各波長光的強度；S2、獲取各波長條紋間的實際相位移；S3、進行該相機的標定，并依次對各波長條紋投影進行相位-高度標定；S4、通過該投影裝置依次將各波長條紋投影至被測物，通過相機拍攝被測物表面的各波長條紋投影圖像，然后根據(jù)各波長條紋投影圖像計算出各觀測點的初始相位，并對該些初始相位解包裹；S5、根據(jù)相位-高度標定由各觀測點的經(jīng)過解包裹的初始相位分別獲取該個觀測點的高度坐標，再根據(jù)相機標定獲取該個觀測點的三維坐標。本發(fā)明的該測量方案運行速度高、測量精度高，并且成本低廉。