觸控IC模擬前端自測的內(nèi)建架構(gòu)及測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201310277520.2 申請日 -
公開（公告）號 CN103308850B 公開（公告）日 2016-02-24
申請公布號 CN103308850B 申請公布日 2016-02-24
分類號 G01R31/3163(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 楊岳明;丁昌青;王波 申請（專利權(quán)）人 南京華東電子集團有限公司
代理機構(gòu) 南京蘇科專利代理有限責(zé)任公司 代理人 蘇州磐啟微電子有限公司;南京華東電子集團有限公司
地址 215021 江蘇省蘇州市工業(yè)園區(qū)星湖街328號創(chuàng)意產(chǎn)業(yè)園2-B401
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明揭示了一種觸控IC模擬前端靈敏放大器、濾波器、多路選擇器及ADC自測的內(nèi)建架構(gòu)及測試方法。其內(nèi)建架構(gòu)包括多路開關(guān)S1、S2，開關(guān)S3、S4，片上電容C，驅(qū)動信號產(chǎn)生模塊，多路的靈敏放大器和濾波器，多路選擇器，ADC以及自測控制模塊。在自測試系統(tǒng)工作時，多路開關(guān)S1和開關(guān)S4斷開，切斷觸控IC驅(qū)動通路以及所有傳感引腳輸入通路；多路開關(guān)S2和開關(guān)S3接通；驅(qū)動信號經(jīng)注入片上電容C傳遞、再經(jīng)放大、濾波后送入多路選擇器，在控制下多路選擇器選擇合適信號送入ADC采樣，ADC采樣數(shù)據(jù)送入自測控制模塊并進行優(yōu)化的最小二乘法線性擬合操作，最終輸出擬合結(jié)果。本發(fā)明集成靈敏放大器，濾波器，多路選擇器及ADC測試于一體，測試效率提升及成本優(yōu)化顯著。