一種晶粒裂紋檢測(cè)識(shí)別方法、計(jì)算機(jī)裝置和存儲(chǔ)介質(zhì)
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202111391892.9 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN113822887B | 公開(kāi)（公告）日 | 2022-03-15 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN113822887B | 申請(qǐng)公布日 | 2022-03-15 |
| 分類(lèi)號(hào) | G06T7/00（2017.01）I;G06T7/136（2017.01）I;G06T7/187（2017.01）I;G06T7/40（2017.01）I;G06T5/30（2006.01）I;G06N3/08（2006.01）I | 分類(lèi) | 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù); |
| 發(fā)明人 | 于偉敏;胡穎超;曹星;田丹女 | 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 | 江蘇集萃蘇科思科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 蘇州通途佳捷專(zhuān)利代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 翁德億 |
| 地址 | 215000江蘇省蘇州市相城區(qū)南天成路99號(hào)紫光大廈（啟迪大廈）18樓 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明涉及一種晶粒裂紋檢測(cè)識(shí)別方法、計(jì)算機(jī)裝置和存儲(chǔ)介質(zhì)。包括：1、通過(guò)深度神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型對(duì)橫斷面掃描電鏡圖提取邊緣紋理，獲得整體邊緣紋理圖，獲得橫斷面掃描電鏡圖上的單一顆粒的掩模圖，2、將整體邊緣紋理圖與對(duì)應(yīng)的單一顆粒的掩模圖相乘，獲得單一顆粒的邊緣紋理圖，3、將單一顆粒的邊緣紋理圖實(shí)施裂紋分割操作得到單一顆粒的裂紋二值掩模圖，4、將單一顆粒的裂紋二值掩模圖進(jìn)行形態(tài)學(xué)骨架化操作，提取出單一顆粒的裂紋結(jié)果圖。本申請(qǐng)可獲得單一顆粒的裂紋結(jié)果圖。且裂紋的檢測(cè)識(shí)別結(jié)果較為清楚和準(zhǔn)確。為后續(xù)研究奠定了良好的基礎(chǔ)。本申請(qǐng)得到的裂紋結(jié)果圖可以進(jìn)一步進(jìn)行量化分析，用于鋰電池壽命預(yù)測(cè)、正極材料設(shè)計(jì)優(yōu)化等研究。 |
