一種測試模組和測試機
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202021793762.9 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN214252486U | 公開(公告)日 | 2021-09-21 |
申請公布號 | CN214252486U | 申請公布日 | 2021-09-21 |
分類號 | G01R31/28(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 王樹鋒;陳陽 | 申請(專利權(quán))人 | 前海晶云(深圳)存儲技術(shù)有限公司 |
代理機構(gòu) | 深圳市威世博知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 黎堅怡 |
地址 | 518000廣東省深圳市前海深港合作區(qū)前灣一路1號A棟201室(入駐深圳市前海商務(wù)秘書有限公司) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實用新型公開了一種測試模組和測試機,所述測試模組包括測試探針、測試壓頭、安裝板、測試板和伸縮機構(gòu);所述測試探針和所述測試壓頭固定于所述安裝板上;所述測試板與所述安裝板相對,用于放置芯片測試模塊;所述伸縮機構(gòu)用于帶動所述安裝板靠近或遠離所述測試板;所述測試壓頭設(shè)有溫度轉(zhuǎn)換模塊。本實用新型的測試模組和測試機通過設(shè)置測試架以及測試模組,在測試壓頭內(nèi)設(shè)置溫度轉(zhuǎn)換模塊,實現(xiàn)向?qū)π酒牡蜏睾透邷氐臋z測,適應(yīng)不同芯片的測試需求,適應(yīng)性強應(yīng)用廣泛。 |
