實時測量顆粒粒徑分布的成像檢測方法及系統(tǒng)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201510970123.2 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN105571998A | 公開(公告)日 | 2016-05-11 |
申請公布號 | CN105571998A | 申請公布日 | 2016-05-11 |
分類號 | G01N15/02(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 曹建國;王學重 | 申請(專利權(quán))人 | 晶格碼(青島)智能科技有限公司 |
代理機構(gòu) | 北京超凡志成知識產(chǎn)權(quán)代理事務所(普通合伙) | 代理人 | 晶格碼(青島)智能科技有限公司 |
地址 | 266019 山東省青島市青島高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)松園路17號工業(yè)技術(shù)研究院A區(qū)A1棟226 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提供了一種實時測量顆粒粒徑分布的成像檢測方法及系統(tǒng),該方法包括:獲取存在懸浮顆粒的待測流體的多個圖像;從每一個所述圖像的圖像信息中提取顆粒信息,并根據(jù)所提取的顆粒信息計算所述懸浮顆粒的粒徑分布;同時顯示所述圖像和與所述圖像相對應的粒徑分布。由此可以在獲取存在懸浮顆粒的待測流體的圖像的同時在線提供懸浮顆粒的粒徑分布。 |
