樣品倉(cāng)、光譜檢測(cè)系統(tǒng)
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201921664345.1 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN211783325U | 公開(kāi)（公告）日 | 2020-10-27 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN211783325U | 申請(qǐng)公布日 | 2020-10-27 |
| 分類號(hào) | G01B11/06(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 黃培雄;張前成 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 雄安華訊方舟科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 深圳中一聯(lián)合知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 深圳市太赫茲科技創(chuàng)新研究院有限公司;雄安華訊方舟科技有限公司 |
| 地址 | 518000廣東省深圳市寶安區(qū)西鄉(xiāng)街道寶田一路臣田工業(yè)區(qū)第37棟二樓東 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申請(qǐng)適用于計(jì)算機(jī)技術(shù)領(lǐng)域，提出一種樣品倉(cāng)、光譜檢測(cè)系統(tǒng)、樣品厚度測(cè)量方法及裝置，樣品倉(cāng)包括相對(duì)的第一側(cè)壁和第二側(cè)壁；第一側(cè)壁反射太赫茲波形成第一反射信號(hào)，透射太赫茲波形成第一透射信號(hào)；第二側(cè)壁全反射第二透射信號(hào)，形成第二反射信號(hào)；待測(cè)樣品的第一表面和第二表面分別反射第一透射信號(hào)形成第三反射信號(hào)和第四反射信號(hào)。由于太赫茲波在空氣中的傳播速度、第一側(cè)壁和第二側(cè)壁之間的距離均已知，因此通過(guò)樣品倉(cāng)測(cè)量出接收到第一反射信號(hào)和第三反射信號(hào)的時(shí)間差，以及接收到第二反射信號(hào)和第四反射信號(hào)的時(shí)間差，可以計(jì)算待測(cè)樣品的厚度，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)未知折射率樣品的厚度進(jìn)行測(cè)量。?? |
