共振隧穿二極管晶圓結(jié)構(gòu)的制備方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201810488345.4 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN108648997B | 公開(公告)日 | 2020-02-18 |
申請公布號 | CN108648997B | 申請公布日 | 2020-02-18 |
分類號 | H01L21/329;H01L21/306 | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 張翠;丁慶;楊旻蔚;孫竹;許奔 | 申請(專利權(quán))人 | 雄安華訊方舟科技有限公司 |
代理機構(gòu) | 深圳中一專利商標(biāo)事務(wù)所 | 代理人 | 官建紅 |
地址 | 071700 河北省保定市容城縣容蠡路西側(cè)華北機電城2號樓1號房 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明涉及一種共振隧穿二極管晶圓結(jié)構(gòu)的制備方法,包括如下步驟:提供襯底;在襯底上依次層疊沉積的第一重?fù)诫sInGaAs層、InP層、第一AlAs勢壘層、InGaAs勢阱層、第二AlAs勢壘層和第二重?fù)诫sInGaAs層;在所述第二重?fù)诫sInGaAs層上沉積金屬圖形,形成第二歐姆接觸;在金屬圖形以外的區(qū)域,先用可刻蝕InGaAs材料和AlAs材料、但不刻蝕InP材料的第一刻蝕液從第二重?fù)诫sInGaAs層刻蝕至InP層,再用可刻蝕InP材料、但不刻蝕InGaAs材料和AlAs材料的第二刻蝕液刻蝕至第一重?fù)诫sInGaAs層;在經(jīng)刻蝕處理后的第一重?fù)诫sInGaAs層上沉積金屬形成第一歐姆接觸。 |
