一種半導(dǎo)體檢測用四探針

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202022001211.0 申請日 -
公開（公告）號(hào) CN213398671U 公開（公告）日 2021-06-08
申請公布號(hào) CN213398671U 申請公布日 2021-06-08
分類號(hào) G01R1/073（2006.01）I;G01R31/26（2014.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 楊博 申請（專利權(quán)）人 柳州臻驅(qū)電控科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 杭州知管通專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 黃華
地址 545000廣西壯族自治區(qū)柳州市雞喇路16號(hào)青山廠內(nèi)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開了一種半導(dǎo)體檢測用四探針，包括本體，所述本體的上端固定安裝有絕緣板，所述絕緣板上端的中部固定安裝有測試板，所述本體后端的中部固定安裝有支架，所述支架的前端延伸至測試板上方，所述絕緣板上端的左端固定安裝有控制臺(tái)，所述控制臺(tái)的上端固定安裝有數(shù)示屏，所述數(shù)示屏的下端嵌入在控制臺(tái)的內(nèi)部，所述數(shù)示屏的上端與控制臺(tái)的上端為同一平面。該半導(dǎo)體檢測用四探針，通過安裝壓力傳感器可在對半導(dǎo)體進(jìn)行檢測時(shí)可對測試頭下探的壓力進(jìn)行探測，避免下探壓力過大將半導(dǎo)體原件造成損傷，使得測試數(shù)據(jù)失效，有效的提高了測試的精度，且對半導(dǎo)體原件進(jìn)行保護(hù)，同時(shí)使測試更加的便捷，有效的增加了測試效率。