一種波長偏移校正方法及裝置及計(jì)算機(jī)設(shè)備

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201811640676.1 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN109655415B 公開（公告）日 2022-01-18
申請(qǐng)公布號(hào) CN109655415B 申請(qǐng)公布日 2022-01-18
分類號(hào) G01N21/27（2006.01）I;G06F17/16（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 于丙文;陳挺;常紅旭;鄭磊落;劉文龍;馮雨晨;方博凡 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 浙江全世科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海漢聲知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 胡晶
地址 310053浙江省杭州市濱江區(qū)六和路368號(hào)一幢（北）三樓B3155室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種波長偏移校正方法，該方法包括：獲取參考光譜和待校正光譜；計(jì)算待校正光譜中每個(gè)像素的強(qiáng)度密度函數(shù)，得到多項(xiàng)式系數(shù)矩陣，多項(xiàng)式系數(shù)矩陣中的每一組多項(xiàng)式系數(shù)分別為待校正光譜中的一個(gè)像素的強(qiáng)度密度函數(shù)的系數(shù)；確定像素偏移量范圍；根據(jù)像素偏移量范圍內(nèi)的像素偏移量與多項(xiàng)式系數(shù)矩陣計(jì)算出每個(gè)像素偏移量對(duì)應(yīng)的待審核光譜；確定和參考光譜最接近的待審核光譜，得到最優(yōu)像素偏移量；根據(jù)最優(yōu)像素偏移量與多項(xiàng)式系數(shù)矩陣對(duì)待校正光譜進(jìn)行校正，得到波長偏移校正后的光譜。該波長偏移校正方法能夠?qū)庾V數(shù)據(jù)進(jìn)行非整數(shù)倍像素偏移量的校正，不依賴尋峰法。本發(fā)明還公開了波長偏移校正裝置及計(jì)算機(jī)設(shè)備。