一種多像素超小電容X射線探測單元及探測器
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202021694270.4 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN212380427U | 公開(公告)日 | 2021-01-19 |
申請公布號 | CN212380427U | 申請公布日 | 2021-01-19 |
分類號 | H01L31/0224(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 李正;唐立鵬 | 申請(專利權(quán))人 | 湖南正芯微電子探測器有限公司 |
代理機構(gòu) | 長沙新裕知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 湖南正芯微電子探測器有限公司 |
地址 | 411100湖南省湘潭市岳塘區(qū)創(chuàng)新創(chuàng)業(yè)園C區(qū)4棟4樓 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實用新型公開了一種多像素超小電容X射線探測單元及探測器,多像素超小電容X射線探測單元,包括n型硅基體,其頂面設(shè)有P+陰極,底面設(shè)有n+陽極;n型硅基體的頂面設(shè)有第一二氧化硅矩形框,第一二氧化硅矩形框內(nèi)設(shè)有第二二氧化硅矩形框,兩者間形成第一P+重摻雜離子注入?yún)^(qū),第二二氧化硅矩形框內(nèi)形成第二P+重摻雜離子注入?yún)^(qū),第二二氧化硅矩形框上形成連通第一P+重摻雜離子注入?yún)^(qū)和第二P+重摻雜離子注入?yún)^(qū)形成P+陰極的缺口,缺口為第三P+重摻雜離子注入?yún)^(qū),第二P+重摻雜離子注入?yún)^(qū)上鍍設(shè)有陰極鋁層。一種多像素超小電容X射線探測器,由多個上述所述的多像素超小電容x射線探測單元呈陣列分布組成,電極面積和電容值小。?? |
