碳納米管發(fā)熱膜電極復(fù)合質(zhì)檢裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201921237185.2 申請日 -
公開（公告）號 CN210514121U 公開（公告）日 2020-05-12
申請公布號 CN210514121U 申請公布日 2020-05-12
分類號 G01N21/956;G01N21/01 分類 測量；測試;
發(fā)明人 童瀟;馬冬雷 申請（專利權(quán)）人 山東啟原納米科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 濰坊博強(qiáng)專利代理有限公司 代理人 山東啟原納米科技有限公司
地址 262300 山東省日照市五蓮縣軍民融合產(chǎn)業(yè)園
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開了一種碳納米管發(fā)熱膜電極復(fù)合質(zhì)檢裝置，包括質(zhì)檢柜，質(zhì)檢柜的兩端相對安裝有膜體輸送導(dǎo)向裝置，質(zhì)檢柜的上端封裝有透明的膜體質(zhì)檢面板，膜體質(zhì)檢面板下方的質(zhì)檢柜內(nèi)安裝布置有若干質(zhì)檢燈，質(zhì)檢柜上位于膜體質(zhì)檢面板的上方相對安裝有兩個(gè)伸縮式遮光裝置，質(zhì)檢柜上橫跨兩伸縮式遮光裝置安裝有支撐門架，支撐門架上轉(zhuǎn)動(dòng)安裝有質(zhì)檢輔助標(biāo)記裝置；兩伸縮式遮光裝置之間形成檢測膜體的檢測區(qū)，對非檢測區(qū)以外的膜體質(zhì)檢面板進(jìn)行遮擋，防止光線透出照射質(zhì)檢人員的眼睛，且可根據(jù)膜體的寬度自由調(diào)整檢測區(qū)的寬度，在檢測寬度較大的膜體時(shí)，可以在檢測柜的一側(cè)借助質(zhì)檢輔助標(biāo)記裝置將膜體對側(cè)不合格處做標(biāo)記，使用更方便。