三維形貌痕跡比對測量儀的標定夾具

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201220240033.X 申請日 -
公開（公告）號 CN202599394U 公開（公告）日 2012-12-12
申請公布號 CN202599394U 申請公布日 2012-12-12
分類號 G01B21/20(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 嚴繼華;路振濤;孟凡忠;梁玉清 申請（專利權(quán)）人 安徽國盾三維高科技有限公司
代理機構(gòu) 安徽省蚌埠博源專利商標事務(wù)所 代理人 楊晉弘
地址 233000 安徽省蚌埠市高新區(qū)黃山大道漢旭工業(yè)園
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型涉及一種三維形貌痕跡比對測量儀的標定夾具，包括底盤（1）、前后擋板（3）、左右護板（5、9）、夾具底座（6）和分厘卡（2），所述底盤上固定有滑槽，滑槽的斜面上放置有滑塊，滑塊前后設(shè)有擋板，滑塊左右設(shè)有護板，前后擋板頂部設(shè)有夾具底座，擋板、護板、底座互相固定聯(lián)接為一整體，前擋板上固定有分厘卡，分厘卡軸端穿過前擋板與滑塊前端螺紋聯(lián)接。采用本實用新型的優(yōu)點是通過采用分厘卡調(diào)節(jié)，實現(xiàn)了夾具底座的精密升降移動，滿足了對測量儀的標定工作的需要，其結(jié)構(gòu)合理、性能穩(wěn)定、操作簡便，可用于微電子微機械精密件質(zhì)量檢測，從而提高質(zhì)量檢驗技術(shù)水平和工作效率。