三維形貌痕跡比對測量儀的攝像機照明裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201220246163.4 申請日 -
公開（公告）號 CN202599361U 公開（公告）日 2012-12-12
申請公布號 CN202599361U 申請公布日 2012-12-12
分類號 G01B11/24(2006.01)I;G03B17/56(2006.01)I;G03B15/03(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 嚴(yán)繼華;路振濤;孟凡忠;其他發(fā)明人請求不公開姓名 申請（專利權(quán)）人 安徽國盾三維高科技有限公司
代理機構(gòu) 安徽省蚌埠博源專利商標(biāo)事務(wù)所 代理人 楊晉弘
地址 233000 安徽省蚌埠市高新區(qū)黃山大道漢旭工業(yè)園
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型涉及一種三維形貌痕跡比對測量儀的攝像機照明裝置，包括一個弧形的光源支架（1），其上部通孔設(shè)有的光源頂環(huán)（3）與顯微攝像機（8）連接，光源支架下部通孔內(nèi)設(shè)有轉(zhuǎn)向環(huán)（6），其內(nèi)孔設(shè)有轉(zhuǎn)向套（7），轉(zhuǎn)向套內(nèi)孔設(shè)有光源頭（2），光源頭內(nèi)孔中插入光纖接頭（9），光纖接頭（9）連接光纖（10），光源頭（2）的一端端聯(lián)接有光源聚光筒（4）。采用本實用新型的優(yōu)點，使用光源支架、轉(zhuǎn)向套、聚光筒對光源的照射位置、旋轉(zhuǎn)角度和聚光度進行調(diào)整，可實現(xiàn)對測量物體取景成像工作的需要，其結(jié)構(gòu)合理、性能穩(wěn)定、操作簡便，可用于微電子微機械精密件質(zhì)量檢測，從而提高質(zhì)量檢驗技術(shù)水平和工作效率。