三維形貌痕跡比對(duì)測(cè)量?jī)x的投影裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201210116574.6 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN102661720B 公開（公告）日 2014-07-30
申請(qǐng)公布號(hào) CN102661720B 申請(qǐng)公布日 2014-07-30
分類號(hào) G01B11/24(2006.01)I;G03B21/14(2006.01)I;G03B21/54(2006.01)I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 嚴(yán)繼華;路振濤;孟凡忠;梁玉清 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 安徽國(guó)盾三維高科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 安徽省蚌埠博源專利商標(biāo)事務(wù)所 代理人 楊晉弘
地址 233000 安徽省蚌埠市高新區(qū)黃山大道漢旭工業(yè)園
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及三維形貌痕跡比對(duì)測(cè)量?jī)x的投影裝置，包括基座（1）及云臺(tái)（5），基座上面設(shè)有立柱（2），立柱連接攝像機(jī)支架（3a），攝像機(jī)支架（3a）中連接有攝像機(jī)（3）及投影儀（4），其特征在于：攝像機(jī)支架（3a）上連接五維調(diào)節(jié)裝置（7），投影儀（4）連接于五維調(diào)節(jié)裝置（7）上。本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)是投影儀可以在四維空間內(nèi)任意調(diào)整，調(diào)整精確度高，其結(jié)構(gòu)合理、性能穩(wěn)定、操作簡(jiǎn)便，提高了物證檢測(cè)工作效率。